Similarity resonance for improving process model matching accuracy

ACM Press New York, New York, USA (2018) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

Proceedings of the 33rd Annual ACM Symposium on Applied Computing
Seite(n): 86-93

Autorinnen und Autoren

Autorinnen und Autoren

Assy, Nour
van Dongen, Boudewijn F.
van der Aalst, Wil M. P.

Identifikationsnummern