Semi-Automatic Repair of Over-Constrained Models for Combinatorial Robustness Testing

Piscataway, NJ] / IEEE (2020) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

2019 26th Asia-Pacific Software Engineering Conference (APSEC) : [Proceedings]
Seite(n): 110-117

Autorinnen und Autoren

Autorinnen und Autoren

Fögen, Konrad
Lichter, Horst

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