Upper and Lower Tight Error Bounds for Feature Omission with an Extension to Context Reduction

Schlüter, Ralf (Corresponding author); Beck, Eugen; Ney, Hermann

New York, NY : IEEE (2018, 2019)
Fachzeitschriftenartikel

In: IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence : TPAMI
Band: 41
Heft: 2
Seite(n)/Artikel-Nr.: 502-514

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