Visualizing Trace Variants from Partially Ordered Event Data
Schuster, Daniel (Corresponding author); Schade, Lukas; van Zelst, Sebastiaan Johannes; van der Aalst, Wil M. P.
Cham : Springer International Publishing (2022)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband
In: Process Mining Workshops : ICPM 2021 International Workshops, Eindhoven, The Netherlands, October 31 - November 4, 2021, Revised Selected Papers / edited by Jorge Munoz-Gama, Xixi Lu
Seite(n)/Artikel-Nr.: 34-46
Einrichtungen
- Fachgruppe Informatik [120000]
- Lehrstuhl für Informatik 9 (Process and Data Science) [122510]
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1007/978-3-030-98581-3_3
- DOI: 10.18154/RWTH-2022-04934
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-2022-04934